Real world Java EE patterns

Bien, Adam

Título:
Real world Java EE patterns
Autor:
Bien, Adam
Temas:
JAVA 2 PLATFORM ENTERPRISE EDITION - J2EE ; PATRONES ; 
Descripción física:
279 p. ; 25 cm.
Idioma:
Inglés, 
País:
Estados Unidos
Publicación:
Lexington, c2009

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